LIRI-2006型图像颗粒分析系统是辽宁仪表研究所有限责任公司最新研制的一种图像法粒度分布测试以及颗粒型貌分析等多功能颗粒分析系统，其拥有完美的粒度分析软件及精准的硬件设备，该系统包括光学显微镜、数字CCD摄像机、电脑、打印机等部分组成。它是传统的显微镜法与现代的图像处理技术的完美结合。它的基本工作流程是：通过数字摄像机将显微镜图像拍摄下来，通过USB数据传输方式将颗粒图像传送到计算机中，通过我公司开发的专业颗粒图像分析软件对图像进行处理与分析，通过显示器和打印机输出分析结果。本系统具有直观、准确、测试范围宽等特点，不仅可以直接观察到颗粒形貌，还可以得到粒度分布、圆形度以及圆形度分布等，为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段。

1. 基本指标与性能：

(1)    测试范围：1-3000微米；

(2)    最大光学放大倍数：1600倍；

(3)    最大分辨率：0.1微米/像素；

(4)    重复性误差：<3%（不包含样品制备因素造成的误差）；

(5)    输出颗粒等效径：投影圆当量径、等效周长径、定方向径（Feret径）、定方向等分径(Martin径)等（可根据用户需求自行选择）(详见五-图象分析-粒径选择)；

(6)    粒度分布类型：频率分布、累计分布等；

(7)    形貌特征参数：圆形度、平均径等；

(8)    输出项目：包括原始参数（包括样品信息、测试信息等），分析数据（包括粒度分布表/分布图、圆形度分布表/分布图等），图形（频率分布直方图和累计分布曲线），典型结果（最小/最大径，最小/最大面积，平均径，平均圆形度，中位径等）。

1. 测试原理

(1)    标定方法

LIRI-2006图象分析仪有自带的标准尺，可用其来标定在相同操作环境下图象的基准尺寸，并保存到图象分析仪中。凡在特定的操作环境摄取的图象，可选用相应的尺寸基准。图象分析仪的精度是特定基准尺寸下单位像素所代表的尺寸大小。

(2)    图像颗粒分析系统的原理

通过对每个颗粒所包含像素数量的统计，计算出每个颗粒的等效圆面积，从而计算出投影圆当量径等一系列粒度参数。

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